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场发射透射电子显微镜

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设备编号:20071212

设备型号:JEM-2100F

放置地点:材料学院强度楼

设备类别:材料制备

管理员:郭生武

管理员电话:82668547

管理员邮箱:gsw@mail.xjtu.edu.cn

院内价格:

校内价格:

校外价格:

主要功能:

JEM-2100F场发射高分辨透射电子显微镜是211工程项目,设备价值约82万美元。加速电压为200KV,选用高分辨极靴,点分辨率为0.23nm, 晶格分辨率为0.1nm, 电子枪亮度4×108A/(cm2.sr), TEM模式下,束斑尺寸为2~5nm, 放大倍数2000X~1500000X, 样品台倾斜角度,X方向±25°,Y方向±30°。SAD模式下,最小选取尺寸为 Φ100nm, 选配了STEM(包含明场探头和高角环形暗场探头)和 EDS附件,STEM模式下,晶格图像的分辨率为0.2nm. , 束斑尺寸最小为0.2nm, EDS的接收角度为0.13sr, 逸出角度为25° JEM-2100F电镜除应用于材料的晶体结构、组织形貌及化学成分的常规分析外,主要应用于高分辨电子显微学研究。研究的对象为周期性的晶体结构,准晶、非晶,单个空位、原子、位错、层错等晶体缺陷,以及晶界、相界、畴界、表面等界面。 结合使用STEM和EDS附件,可以得到样品微区化学元素的面分布和线分布图谱。应用HAADF-STEM附件功能可以实现样品微区高分辨原子序数(Z)衬度像。 